Conventional Particle(CP) エラストマーソケット
金メッキ加工されたパウダーで柱を生成し、シリコンで柱を掴んで安定させることで高い弾性度を維持しているため、多様なテスト環境に対応できるソケットです。
特異デバイスのボールおよびパッドのダメージを防ぎ、ハイスピード対応を可能にします。
ファインピッチからノーマルピッチ、不規則なContact arrayも製作できます。
MBP テストソケット
メタルブリックパーティクルを使用して製作されたエラーメッセージです。
この新しい粒子は、従来の粒子とは異なり、接触面を増加させ、粒子間接触抵抗を減少させます。
ブリック形状の粒子により強固に形成され衝撃に強いため、一般粒子を使用したソケットより寿命が約2倍以上長くなります。
ロジックのアプリケーション
CPU, GPU, AP, SERVER, PMIC…etc
メモリーのアプリケーション
DDR, LPDDR, NAND, NAND Flash, MCP…
テスト条件
Validation, ATE (Automatic Test Equipment)
SLT (System Level Test), BI
温度
-40°C ~ 125°C
特徴
No Ball/Pad Damage
High Speed, Low Resistance